一
1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、γ射线一样，也是一种电磁辐射。
2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。
3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是稳定、强度大、光谱纯洁。
4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种，它们分别是峰巅法、切线法、半高宽中点法、中线峰法、重心法、抛物线拟合法。
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是哈那瓦特索引、芬克索引、字顺索引。
7、特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。
8、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分连续扫描 、步进扫描 、跳跃步进扫描 三种。
9、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类： 连续X射线光谱和特征X射线光谱。
10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为  X射线的衰减。
11、用于X射线衍射仪的探测器主要有 盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
12、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有 X射线透视技术、 X射线光谱技术、 X射线衍射技术 三个方面
13、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生 光电效应 ；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为 热振动能量 。
1、 电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的  微区形貌、  晶体结构和  化学组成。
2、电子显微镜可分为： 透射电子显微镜、 扫描电子显微镜等几类。
3、电镜中，用 静电透镜作电子，发射电子束；用 磁 透镜做会聚透镜，起成像和放大作用。
4、磁透镜和玻璃透镜一样具有很多缺陷，因此会造成像差，像差包括：球差 差、像散 、和畸变。
5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时，在原子库仑电场作用下，入射电子方向改变，称为散射。原子对电子的散射可分为  弹性  散射和  非弹性 散射。在  弹性 散射过程中，电子只改变方向，而能量基本无损失。在  非弹性  散射过程中，电子不但改变方向，能量也有不同程度的减少，转变为  热  、  光  和  X射线和二次电子发射  等。
6、电子与固体物质相互作用过程中产生的各种电子信号，包括 二次电子  、  背散射电子、俄歇电子、_ 透射电子和吸收电子  等。
7、块状材料是通过减薄的方法（需要先进行机械或化学方法的预减薄）制备成对电子束透明的薄膜样品。减薄的方法有  超薄切片  、 电解抛光  、  化学抛光  和  离子轰击等。
8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，成像信号可以是 二次电子  、 背散射电子  或  吸收电子。
9、透射电子显微镜中高分辨率像有  晶格条纹像  和  原子结构像  。
1 光率体的种类有 均质体的光率体, 一轴晶的光率体, 二轴晶的光率体; 其形态分别为 球体, 旋转椭球体 ,三轴椭球体。
2．光显微镜的调节与校正的内容主要有对光, 准焦, 确定下偏光镜的振动方向且将其平行东西方向十字丝，中心校正。
3．干涉级序的测定方法有 边缘带法 ,补偿法（石英楔子法） 。
4．晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要内容有形态，解理、多性、吸收性、突起、颜等。
5．影响光程差的因素有 矿物切片方向, 矿片厚度, 矿物本身性质。
6．锥光镜下研究矿物晶体时，可观察和测定的内容有 晶体的轴性, 光性符号 ，切面位置, 光轴角大小， 晶体的光性方位等。
7．一轴晶光率体的主要切面有 垂直光轴的切面, 平行光轴的切面, 斜交光轴的切面三种。
8．二轴晶光率体的主要切面有 垂直于光轴切面, 平行光轴面切面, 垂直Bxa的切面， 垂直Bxo的切面，任意斜交切面五种。
9．根据薄片中晶体颗粒边棱的规则程度，可将晶体分为 自形晶, 半自形晶, 他形晶三类。
10．具有解理的矿物，根据其解理发育的完善程度，可分为极完全解理，完全解理，不完全解理三级。
11．根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小，将晶体的突起分为负高突起, 负低突起, 正低突起， 正中突起, 正高突起, 正极高突起六个等级。
12．在正交偏光镜下，矿物晶体的消光类型有平行消光, 对称消光, 斜消光三种。
13．干涉级序的测定方法有 目测法, 边缘带法, 补偿法 三种。
1、沪陕高速路况实时查询差热分析法、热重分析法、差示扫描量热分析法和 热机械分析法是热分析的四大支柱。
2、热分析法是所有在高温过程中测量物质 热 性能技术的总称。
3、热重分析法包括：静态法和动态法 两种类型。
4、热膨胀仪按照位移检测方法可分为：差动变压器检测 、光电检测 、激光干涉条纹检测 三种类型。
1、光谱工作者把红外光分为三个区域： 远红外 、 中红外 、 近红外 。
2、分子的总能量包括：Eo：分子内在的能量，不随分子运动而改变，即零点能。Et、Er、Ev和Ee分别表示分子的平动、转动、振动和原子运动的能量。
3、实际分子以非常复杂的形式振动。但归纳起来，基本上属于两大类振动，即 伸缩振动、弯曲振动
4、弯曲振动细分为 形振动、摇摆振动、卷曲振动
5、红外光谱法制备固体样品常用的方法有 粉末法、糊状法、压片法、薄膜法、热裂解法等多种技术。
1、能谱仪主要由探针器、前置放大器、脉冲信号处理单元、模数转换器、多道分析器、微型计算机及显示记录系统
2、能谱分析有四种基本方法： 定点定性分析  、  线扫描分析    、 面扫描分析  、和 定点定量分析。
3、能谱分析要得到准确的分析结果，需选择适宜的工作条件包括 加速电压、计数率、 计数时间  和X射线出射角等。
二
1、凯迪拉克ct6报价2021款X-射线的吸收：当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X-射线的吸收。
三
1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。
风神s30价格
d
4.27
3.86
3.54
3.32
2.98
2.67
2.54
2.43
2.23
I/I0
10
40
8
6
100
10
90
65
8
d
2.16
2.07
1.84
1.75
1.54
1.38
1.26
1.18
1.06
I/I0
2
85
5
70
15
35
2
20
1
按强度; 2.98 >2.54 >2.07 >1.75>2.43 >3.86 >1.38 >1.18
Hanawalt索引:
A:2.98  2.54  2.07  1.75  2.43  3.86  1.38  1.18
B:2.54  2.98  2.07  1.75  2.43  3.86  1.38  1.18
C:2.07  2.98  2.54  1.75  2.43  3.86  1.38  1.18
D: 1.75  2.98  2.54  2.07  2.43  3.86  1.38  1.18
按d值：3.86 >2.98> 2.54 >2.43 >2.07 >1.75> 1.38> 1.18
Fink索引:
A: 2.98  2.54  2.43  2.07  1.75  1.38  1.18  3.86
B: 2.54  2.43  2.07  1.75  1.38  1.18  3.86  2.98
C: 2.43  2.07  1.75  1.38  1.18  3.86  2.98  2.54
雅马哈电动车价格表D: 2.07  1.75  1.38  1.18  3.86  2.98  2.54  2.43
2、产生特征X射线的根本原因是什么？
内层电子跃迁：阴极发出的电子动能足够大，轰击靶，使靶原子中的某个内层电子打出，使它脱离原来的能级，致使靶原子处于受激态。此时，原子中较高能级上的电子自发跃迁到该内层空位上，多余的能量变为X射线辐射出。由于任一原子各个能级间的能量差值都是某些不连续的确定值，该差值转变为X射线的波长必为确定值，即产生特征X射线。
3、简述特征X-射线谱的特点。
特征X-射线谱有称作标识射线，它具有特定的波长，且波长取决于阳极靶元素的原子序数。
4、推导布拉格公式，画出示意图。课本111-112
5、回答X射线连续光谱产生的机理。      答：当X射线管中高速电子和阳极靶碰撞时，产生极大的速度变化，就要辐射出电磁波。由于大量电子轰击阳极靶的时间和条件不完全相同，辐射出的电磁波具有各种不同波长，因而形成了连续X射线谱。
6、X射线所必须具备的条件。（1）产生自由电子的电子源 （2）设置自由电子撞击靶子，用以产生X射线
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（3）施加在阳极和阴极间的高压（4）将阴阳极封闭在高真空中，保持两极纯洁
7、简述连续X射线谱的特征（1）当增加X射线管时，各种波长射线的相对强度一致增高，最大强度波长λm和短波线λo变小(2)当管压保持恒定，增加管流是，各种波长的X射线相对
强度一致增高。但λm和λo数值大小不变。（3）当改变阳极靶元素时，各种波长的相对强度随靶元素的原子序数增加。

第四章  热分析技术
一、 填空题
二、名词解释
1差热分析：在程序控制温度下测量物质和参比物之间的温度差关系的一种计数。京沙快速2综合热分析：同一时间对同一样品使用两种或两种以上的闷热分析手段的方法。3差示扫描量热分析：在程序控制温度下，测量输给试样和参比物的能量差随温度或时间变化的一种技术。
三、问答与计算
2、某物质的DSC—TG曲线如图所示,试在图上标出每次热效应的反应起始点温度与反应终止点温度,并分析该物质可能的热过程。
第一个峰谷可能是脱水反应-吸热反应
第二个峰谷可能是分解反应或脱水反应-吸热反应
5、什么是差示扫描量热分析？  在程序控制温度下，测量输给试样和参比物的能量差随温度或时间变化的一种技术。
6、简述热重分析的主要应用。    答：热重分析法的最大特点是定量性强，可以精确地分
析出二元或三元混合物各组分的量。利用脱羟基水的失重量测定氢氧化钙的含量，进而研究水泥水化的速度问题；利用脱碳失重测定碳酸盐的含量或脱硫失重测定硫酸盐的含量；利用脱水失重测定含水矿物的数量。