车规级半导体功率器件测试认证规范
1 范围
本文件规定了车规级半导体功率器件的测试认证要求。
本文件适用于汽车应用的硅基和碳化硅基半导体功率器件的测试认证。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 4937.31 半导体器件机械和气候试验方法第31部分：塑封器件的易燃性（内部的）GJB 33 半导体分立器件总规范
GJB 128 半导体分立器件试验方法
AEC Q101 基于失效机理的汽车应用分立半导体器件应力试验认证（Failure mechanism based stress test qualification for discrete semiconductors in automotive applications）
AEC-Q005 无铅测试要求（Pb-free test requirements）
JEDEC JESD 22 封装器件可靠性试验方法（Reliability test methods for packaged devices）
IEC 60747-2 半导体器件第2部分：分立器件整流二极管（Semiconductor devices – Part 2: Discrete devices – Rectifier diodes）
IEC 60747-8 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管（Semiconductor devices – Discrete devices –Part 8: Field-effect transistors）
IEC 60747-9 半导体器件第9部分：分立器件绝缘栅双极型晶体管（Semiconductor devices – Part 9: Discrete devices – Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)）
MIL STD 19500 半导体器件总规范（Semiconductor devices, general specification for）
MIL STD 750 半导体器件试验方法（Test methods for semiconductor devices）
3 术语和定义
AEC Q101-2013界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
鉴定检验identification test
为确定新研产品的性能和可靠性是否满足标准要求而进行的试验和测试。
3.2
质量一致性检验quality consistency test
针对已通过鉴定的产品，为确定后续生产批次产品是否与鉴定批产品的质量水平保持一致而进行的试验和测试。
3.3
结构相似器件structurally similar devices
基于相同材料要求、设计规则和封装类型，在相同生产线，采用相同制造工艺制造的器件。
3.4广汽菲克合资公司解体
检验批inspection lot
采用相同设计准则和相同工艺、封装条件生产，用于进行鉴定检验或质量一致性检验样品抽样的器件批次。
4 缩略语宇通客车
本文件中所使用到的缩略语见表1。
表1 试验缩略语
5 通用要求
5.1 优先级要求
当该标准中的要求与其他文件要求不一致时，可采用以下优先级：
a)采购订单；
b)单独商定的器件规范；
c)本标准文件；
d)第2章中的引用文件；
e)供应商的数据手册。
本文件认证合格的器件，采购订单或单独商定的器件规范不能放弃和降低本文件的要求。
5.2 试验样品
起亚k2三厢改装5.2.1 生产要求
所有用于认证的试验样品的生产厂及其生产设备和工艺等技术状态，必须与量产交付的样品保持一致。s500报价
5.2.2 检验批要求
鉴定检验批由具备相同技术状态的三个连续生产批器件构成，质量一致性检验批由通过鉴定检验后的某一生产批器件构成。鉴定检验和质量一致性检验样品批应由承制方选择，检验批和每个子批的大小至少应是鉴定检验和质量一致性检验所需样品数量的两倍。
5.2.3 样品抽取
所有样品从检验批中随机抽取。承制方应在检验批中保留足够的器件以便提供追加样品。
5.2.4 样品识别
鉴定机构的代表应对需要进行鉴定和质量一致性检验的所有器件进行标记，以便与那些不准备进行鉴定和质量一致性检验的器件区分开。
5.2.5 样品复用
已被用于非破坏性测试的器件还可用来进行其他认证测试。已被用于破坏性测试的器件，除工程分析外，不得再作他用。
5.3 失效判据
器件完成应力试验后，进行性能参数测试，符合以下任一标准即判定为失效。如果产品失效是由于试验过程中操作不当导致，则该失效不算做批次性失效，但须详细记录失效情况并进行失效分析，征得用户同意后可重新选择样品进行该项试验。
a)器件静态电参数超出产品数据手册或详细规范规定的合格要求范围，静态电参数测试至少应
包含附录A规定的项目；
b)在完成应力试验后，器件除漏电流外的电参数超出初始读数的±20%；
c)在完成含湿度应力的试验后，器件漏电流超出初始读数的10倍，或不含湿度应力试验后，漏
电流超出初始读数的5倍；
d)任何由于应力试验导致的外部物理损伤。
6 检验方法
6.1 鉴定检验
鉴定检验项目按不同的目的和应力类型共分为A、B、C、D四组检验，具体规定分别如表2—表5所示。新研器件应按照A组、B组、C组和D组检验的要求开展各项试验与测试，进行B组、C组、D组试验的全部样品应从通过A1~A5分组检验的样品中抽取。在各分组试验中，未经特殊说明，终点测试均指A2分组常温静态电参数测试。
6.2 质量一致性检验
质量一致性检验只需进行A组、B组和C组三组检验。已通过鉴定产品的后续生产批次器件应按照A 组、B组和C组检验的要求开展各项试验与测试。进行B组、C组试验的全部样品应从通过A1~A5分组检验的样品中抽取。在各分组试验中，未经特殊说明，终点测试均指A2分组常温静态电参数测试。各批器件都应进行A组和B组检验，若某款代表器件完成C组检验，则说明其结构相似器件满足C组要求。承制方对结构相似器件是否重复进行C组检验可与与鉴定机构进行协商。如果承制方决定结构相似器件不重复进行C组检验，而用工艺过程监督或统计过程控制程序来代替（当鉴定机构批准时），则承制方可不重复进行C组检验，但对今后进行这些试验出现的相关失效仍要承担全部责任。
j86.3 A组检验
每个鉴定或质量一致性检验批器件都应按表2和有关详细规范的规定进行A组检验，A组检验由外观检查和电性测试组成。如果检验批由若干个子批组成，则每个子批都应按规定通过A组检验。A6、A7分组检验样品需从通过A1~A5检验的样品中抽取。
表2 A组检验
表2 A组检验（续）
6.4 B组检验
雪地摩托每个鉴定和质量一致性检验批器件都应按照表3和有关详细规范的规定进行B组检验。B组检验主要包括模拟器件实际应用应力状态的各类试验，每个分组内的所有试验项目应按规定顺序进行，不同分组试验可以并行开展。鉴定检验各分组试验需要样品为3个连续批器件，每批器件数量77只。
表3 B组检验